非导电样品在扫描电镜（SEM）中成像时会面临一个主要问题：电荷积累（charging）。因为电子束轰击非导体后，电子无法迅速导出，导致样品表面积累负电荷，从而产生图像漂移、亮度不均甚至成像失败。

为了解决这个问题，常用以下几种方法来提高非导电样品的成像质量：

1. 喷金或碳镀膜（导电涂层） ——常用方法

原理：在样品表面覆盖一层极薄的导电材料，使电子能够流走，避免电荷积累。

常用材料：

金（Au）：成像清晰、导电性好，适合高分辨率成像。

碳（C）：适合能谱分析（EDS），不会引入金属元素干扰。

铂（Pt）、钯（Pd）、铬（Cr）：根据分辨率或元素背景需求选择。

镀膜厚度：几纳米到几十纳米，视样品尺寸与分辨率需求而定。

方法：使用喷金仪、碳蒸发器等设备进行真空镀膜。

2. 低真空或环境扫描电镜（Low Vacuum / ESEM）

原理：利用残余气体（如水蒸气或氮气）中和样品积聚的电荷。

优点：不需要镀膜，适合不耐高温或需保持原貌的样品（如生物样本、湿样品）。

局限：分辨率略低于高真空模式。

3. 使用低加速电压（Low kV Imaging）

原理：减小电子束能量（如降低至 1–5 kV），减少注入电子数量，从而减轻电荷积累。

优点：无需涂层，适合部分敏感样品。

缺点：成像信号弱，景深和分辨率可能降低。

4. 倾斜样品或使用导电胶与样品座连接

将样品边缘用导电胶或铜箔连接到样品托盘（样品座）上，使表面电荷得以泄放。

适合边缘导电但表面不导电的样品，例如某些涂层、复合材料。

5. 图像后处理（仅补救用）

在部分电荷效应较轻的情况下，可通过图像处理软件（如噪声去除、图像对齐）部分改善图像质量，但不能替代物理手段。