在扫描电镜（SEM）中，调节样品台倾斜角度的作用主要有以下几点：

1. 增强表面立体感和细节对比

适当倾斜样品，可以让电子束在表面形成更明显的阴影效果，使纹理、颗粒、微小凹凸的细节更加清晰。

这种立体感提升，有助于观察样品的微观结构特征，比如裂纹、孔洞、台阶状形貌。

2. 改善背散射电子成像（BSE）对比

BSE 成像对元素原子序数（Z值）敏感。

样品倾斜后，不同区域的背散射强度变化更明显，可以提高成分对比，使材料分界更加清晰。

3. 有助于能谱分析（EDS）

进行能谱（EDS）检测时，理想状态是电子束与样品表面接近垂直，探测器与样品之间角度适中。

适当倾斜可以优化探测器的接收角，提高能谱信号采集效率，减少遮挡，提升分析准确性。

4. 便于特定断面或内部结构观察

如果需要观察样品的某个断面、剖面，或者内部细微结构，倾斜样品可以让目标区域直接暴露在电子束下，更容易成像。

5. 减少充电效应（在某些情况下）

对绝缘样品，适当倾斜可能有助于电子荷流更好地分散，略微缓解局部充电导致的成像问题。