如何检测扫描电镜SEM样品中的次表面结构？

在扫描电子显微镜（SEM）中，通常只能看到样品的表面结构，因为SEM主要依赖表面电子的相互作用来产生图像。

如何进行扫描电镜SEM样品的镀膜处理以提高导电性？

在扫描电子显微镜（SEM）中，样品的导电性对成像效果有很大的影响。对于非导电样品，如生物样品、陶瓷或高分子材料，常常需要进行镀膜处理来提高导电性，从而防止电荷积累，减少图像伪影。

样品杆的材质选择对实验结果有重要影响，特别是在扫描电镜（SEM）、透射电镜（TEM）等仪器中进行高精度分析时。

使用扫描电子显微镜（SEM）测量样品的形貌和尺寸是其常见的应用之一。

使用扫描电子显微镜（SEM）检测样品中的孔隙和缺陷是一种常用的方法，尤其在材料科学、金属加工、半导体和纳米技术等领域中广泛应用。

在扫描电子显微镜（SEM）中进行多点元素分布映射（即元素成分的空间分布分析），通常通过结合能量色散X射线光谱（EDS/EDX）技术来实现。

2024年10月10-13日，中国物理学会2024秋季学术会议将在海南国际会展中心举行。

通过扫描电镜（SEM）进行样品的化学组成分析，通常需要结合能量色散X射线光谱（EDS，Energy Dispersive X-ray Spectroscopy）技术。