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扫描电镜可以用于表面粗糙度分析吗？

扫描电子显微镜（SEM）可以用于表面粗糙度分析，但其适用性取决于具体的测量需求和样品特性。

当扫描电镜 (SEM) 出现真空泄漏时，会导致无法维持所需的真空度，影响成像质量和设备正常运行。

选择扫描电镜 (SEM) 的扫描速度时，需要在图像质量、分辨率、信噪比和样品损伤之间进行权衡。

在扫描电镜 (SEM) 使用过程中，漂移与失焦问题会影响图像的清晰度与精度。

在扫描电镜 (SEM) 中减少样品的辐照损伤是保持样品结构完整性和获得高质量图像的关键。

在扫描电镜 (SEM) 中，调整光阑 (Aperture) 是提升图像清晰度、对比度和景深的关键步骤。

在扫描电镜 (SEM) 中使用低电压成像 (Low Voltage Imaging) 是一种有效方法，尤其适合观察非导电样品、表面细节以及减少样品损伤和充电效应的问题。

判断扫描电镜 (SEM) 的电子枪 (Electron Gun) 是否需要更换，通常可以通过以下几个方面进行评估：