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非导电样品在扫描电镜中如何成像

非导电样品在扫描电镜（SEM）中直接成像时容易出现电荷积累（charging）问题，导致图像漂移、发亮斑点或模糊。

在扫描电镜（SEM）下，样品充电（charging）主要发生在非导电或低导电材料表面，因为电子束轰击后产生的多余电荷无法及时泄放。

扫描电镜（SEM）图像中颗粒显示模糊，通常是以下几个原因造成的。根据经验和常见问题，可以从以下几个方面来排查和解决：

在使用扫描电镜（SEM）拍图时，建议关闭灯光（尤其是室内白炽灯、日光灯或辅助照明），具体原因如下：

当扫描电镜（SEM）图像变亮或出现过曝现象时，说明图像中部分区域亮度过高，导致细节丢失、图像偏白或泛光。

扫描电镜（SEM）拍图时通常需要调整样品的高度，这是成像质量和操作效率的重要因素。

扫描电镜（SEM）成像时出现干扰条纹，通常是由于外部干扰、电气系统异常或样品问题引起的。

扫描电镜（SEM）图像采集过程中是可以实时调参的，而且这是实际操作中非常重要的一部分。